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HP-501型四探針探頭
HP系列四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜…等同類物質(zhì)的薄層電阻。
HP-504型四探針探頭
1;特制之手握式探筆
2;球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷
3;探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4;探頭使用壽命長(zhǎng)
5;探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
HP-501型四探針探頭
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型號(hào) |
曲率半徑 |
壓力 |
探針間距 |
探針排列 |
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HP-501 |
0.5mm |
100g |
3.8mm |
直線 |
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HP-502 |
0.75mm |
100g |
3.8mm |
直線 |
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HP-503 |
0.1mm |
150g |
1mm |
直線 |
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HP-504 |
0.5mm |
100g |
1.59mm |
直線 |